芯片失效分析——復達客戶檢測案例
918 
918 客戶背景
客戶是上海某醫(yī)療科技公司，發(fā)現(xiàn)其中一臺設(shè)備中芯片進行讀寫時操作失敗。據(jù)委托方提供的信息，正常芯片DAT和GND引腳的阻抗約為10M歐，這顆異常芯片的阻抗無窮大。故委托方委托我司對故障的芯片進行失效分析。
樣品名稱
IEERAM 芯片
客戶需求
對故障的芯片進行失效分析
解決方案
我司工程師對失效芯片1#和良好芯片2#進行測試。分別對芯片進行了外觀，X-ray，SAM，開蓋觀察，電性能測試。探明失效原因由于第二焊點的焊線脫落導致的。
中優(yōu)采 丨 空心銷軸鏈條 丨 高低溫交變試驗箱 丨 中科國研軟件開發(fā) 丨 映山紅智慧檢測
上海市楊浦區(qū)復旦大學復華科技樓二樓(國權(quán)路525號)
400-091-2039